توضیحات
مقاله ترجمه شده با عنوان قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی- الگوریتم های موازی
دانلود مقاله ترجمه شده با عنوان قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی- الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم،
جزئیات بیشتر این محصول:
عنوان انگلیسی مقاله:
arallel algorithm for finding modules of large- scale coherent fault trees
عنوان فارسی مقاله:
قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی- الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم
فرمت فایل ترجمه شده: word، قابل ویرایش.
تعداد صفحات فایل ترجمه شده: 10
تعداد صفحات فایل اصلی: 4
arallel algorithm for finding modules of large- scale coherent fault trees
